新品推薦：A+A+A+穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器

　更新時(shí)間：2021-07-21　點(diǎn)擊量：3062

【光斑面積：250mm x 250mm】A+A+A+穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器

系統(tǒng)簡(jiǎn)介：

本系統(tǒng)采用A+A+A+穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器，有效照射面積達(dá)250mm x 250mm，滿足182mm/210mm甚至未來(lái)230mm及上尺寸電池片的測(cè)試需求。該穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器性能優(yōu)于JIS C 8909-9 / IEC 60904-9 Ed.3 / ASTM E927-5 AAA級(jí)別要求，達(dá)到IEC60904-9 Ed.3 A+A+A+級(jí)別要求。

整合IV測(cè)試單元最大有效量程可達(dá)±20V /30A，可對(duì)TOPCon、PERC\PERC+、HJT、IBC、HBC、TBC、鈣鈦礦及疊層等各種技術(shù)電池片的光電性能，通過(guò)穩(wěn)態(tài)I-V掃描、正反向掃描、Rsh/Rs測(cè)量、重復(fù)性掃描、暗態(tài)測(cè)試、溫度系數(shù)測(cè)量、電容效應(yīng)測(cè)量、柵線陰影效應(yīng)測(cè)量等測(cè)試方法，進(jìn)行全面的測(cè)量與評(píng)價(jià)。

系統(tǒng)重復(fù)性：優(yōu)于0.1%

系統(tǒng)組成：

*A+A+A+穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器

*IV 測(cè)試單元：最大測(cè)試量程±20V/30A或更大

*探針Bar測(cè)試臺(tái)

*無(wú)主柵測(cè)試臺(tái)

*WPVS標(biāo)準(zhǔn)電池

*測(cè)試暗室（可選）

1）A+A+A+穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器

• 有效光斑面積：250mmX250mm或更大
• 光譜：300nm~1200nm@AM1.5G/AM0
• 光譜不匹配度：<±12.5% (Class A+)
• 輻照不均勻性：<1% (Class A+)
• 輻照不穩(wěn)定性：<1% @ LTI (Class A+)
<0.25@STI (Class A+)
• 減光濾片可選