薄膜/涂層殘余應力儀（kSA MOS Coating Stress tester）采用非接觸MOS激光技術；不但可以對樣品表面應力分布進行統(tǒng)計分析，而且還可以進行樣品表面二維應力、曲率成像分析；并且這種設計始終保證所有陣列的激光光點始終在同一頻率運動或掃描，從而有效的避免了外界振動對測試結果的影響；同時提高了測試的分辨率；適合各種材質(zhì)和厚度薄膜應力分析；